Wafer Probe
读音：英 [ˈweɪfə(r) prəʊb]
美[ˈweɪfər proʊb]
Wafer Probe 基本解释
晶圆探针：一种用于测试半导体晶圆上集成电路性能的工具，通常在晶圆制造过程中的测试阶段使用。
重点词汇
wafer n. 圆片，晶片；薄脆饼；[电]薄片；[宗]圣饼 vt. 用胶纸封
probe n. 探索, 调查, 探针, 探测器 v. 用探针探测, 调查, 探索
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更新时间：2026-10-31 10:27:41
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